聚合物想测SEM,如何制作样品?

聚合物想测SEM,如何制作样品?,第1张

既然是看膜,就需要楼主决定要看自然状态下的膜,还是制品的膜形貌了,制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜,可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上,处理方式和之前回答你的一样,喷金、引导电胶。

你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计,利用背景的亮度差别,其实效果不一定很好的。样品的制作只要你把样品粉末比较充分的分散,可以用去离子水,滴一滴就可以,样品制作的好坏关键就看分散性如何,不能太浓也不能太希

红外光谱在聚合物分析和鉴定中有着极为重要而又非常广泛的应用。聚合物红外光谱分析中非常关键的一步是样品的制备,红外光谱的质量在很大程度上取决于制样方法。聚合物的一般制样方法有以下四种[1]:(1)浇铸薄膜法,是在一定条件下将聚合物溶解于适当的溶剂中,然后将样品溶液滴在适当的载体上,挥发掉溶剂,将膜取下,制得样品膜。这是一种最常用的制样技术,但此法揭膜困难,而且还可能由于铸膜引起分子取向和晶形的改变。若是在盐窗上成膜,虽可直接用于测定,但盐窗比较昂贵,稍微使用不当就容易破裂;(2) 热压薄膜法,是将样品放在模具中加热到软化点以上或熔融后再加压力压成厚度合适的薄膜。由于此法要求在一定的热压装置和较高的温度条件下进行,在制样过程种,某些聚合物会因受热而氧化,或者在加压时产生定向,从而使光谱发生某些变化;(3) KBr压片法,是将高聚物样品研细后和KBr粉末混研,待样品与KBr混合均匀,装入模具内放在油压机上加压,使成为透明的晶片。但多数高聚物难于直接研成很细的粉末,因此难于制作KBr晶片;(4) 切片法,用于不能采用溶解、熔融或加压等手段改变其物理状态的高聚物样品的制备。此法关键是要掌握切削技巧,正确选择切削条件。其它方法如溶液法、悬浮法在聚合物鉴定中很少使用。

针对上述各种方法的优点和不足,本文提出了一些改进措施:将空白KBr压片浸渍于用低沸点有机溶剂溶解的高聚物的溶液中,挥发掉有机溶剂制样来代替浇铸薄膜法,既可以省去揭膜操作,又可以减少对盐窗的损耗;在用KBr压片法制样的过程中,对于难以粉碎的样品,可以借助砂纸、锉刀或锋利的刀片将高聚物制成很细的粉末。


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