求教二氧化钛SEM图分析。。

扫描电镜作为材料分析上一种常用的仪器，它的主要目的还是观察你做出的材料形貌。因为你说是纳米材料，其实纳米材料不一定只有几个纳米，我印象里几十甚至几百个纳米的都可以叫做纳米材料。你这个图里的微米单位，应该是给你一个量度，好像就跟地图上的比例尺差不多。

你这个图主要还是根据SEM的图来表征下你所做出的纳米材料的特性，比如材料呈球形，尺寸在多少个纳米之间，材料颗粒之间有没有团聚现象之类的。

半导体氧化物种类繁多，结构也不一样。 简单的说未经掺杂的半导体氧化物的多数载流子主要决定于本征缺陷类型，但是本征缺陷类型的确定需要在一定进行室温的第一原理计算和模拟--这一般是唯一脱离实验的确定方法。 但更重要的是氧化物半导体只有极少数的二六族氧化物，和金属酸盐类，钙钛矿类compound可以相对明确的进行这种计算，其余的复杂compound一般氧的含量都不是确定的，氧占位也不确定，而且其他成分也不是固定的。总的看没有理论上的万灵药。 结合试验确定是比较普遍的。

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