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你看看电子显微镜的测试原理,SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言,不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像,所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好,SEM可能看不出。SEM 固体材料样品制备方便,只要样品尺寸适合,就可以直接放到仪器中去观察。样品直径和厚度一般从几毫米至几厘米,视样品的性质和电镜的样品室空间而定。对于绝缘体或导电性差的材料来说,则需要预先在分析表面上蒸镀一层厚度约10~20 nm的导电层。 否则,在电子束照射到该样品上时,会形成电子堆积,阻挡入射电子束进入和样品内电子射出样品表面。导电层一般是二次电子发射系数比较高的金、银、碳和铝等真空蒸镀层。 在某些情况下扫描电镜也可采用复型样品。SEM样品制备大致步骤: 1. 从大的样品上确定取样部位; 2. 根据需要,确定采用切割还是自由断裂得到表界面; 3. 清洗; 4. 包埋打磨、刻蚀、喷金处理
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