XRD、 SEM、AFD三者的区别:
1、 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2、 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3、 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
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首先,五氧化二钒导电性不太好;另外,前些年传统电镜拍不导电样品效果很差,对于不导电样品需要喷金/白金/钨/铬等进行导电处理,现在随着电镜技术发展,好多电镜都可以直接拍摄不导电样品。
因此,是否需要喷金可以与电镜操作员沟通或者根据所使用的电镜型号网上查阅相关资料进行确认
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