TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜 EDS:能量弥散X
射线谱(Energy-dispersive X-ray spectroscopy SEM:scanning electron microscope扫描
电子显微镜 FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜 STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜 AFM:Atomic force microscopy原子力显微镜 XRD:X-ray diffractionX射线衍射 XPS:X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱 FT-IR:Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪 UV-VISQ:Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱FESEM
abbr.
field emission scanning electron microscope 场致发射扫描电子显微镜field emission scanning electron microscopy 场致发射扫描电子显微分析法Forcible Entry Safeguards Effectiveness Model 强制进入保障监督效用模型
冷场:做完测试关
灯丝,需要做Cleaning,灯丝束流亮度较低,成像质量较好,不适合做EDS。
热场:灯丝常亮,不需要清洁维护,灯丝亮度高,成像效果较好(相同等级的热场FESEM成像效果略逊色于冷场FESEM),EDS效果远优于冷场。
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