SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别

xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全。

TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜 EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive X-ray spectroscopy SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜 FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜 STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜 AFM：Atomic force microscopy原子力显微镜 XRD：X-ray diffractionX射线衍射 XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱 FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪 UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱

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