晶体管型号: 2N2108
生产厂家: CSR,SEM,美国晶体管有限公司
制作材料: Si-NPN
性质: 低频或音频放大 (LF),开关管 (S)
封装形式: 直插封装
极限工作电压: 60V
最大电流允许值: 0.5A
最大耗散率: 1W
放大倍数: β>75
最大工作频率: <1MHZ或者未知工作频率
引脚数: 3
可代换的型号: BC140,BC141,BC300,BC301,BC302,2N2217,2N3053,
用常见的8050就可以了
晶体管型号: 2SD2108
生产厂家: 日本日立公司
制作材料: Si-N+Darl+Di
性质: 低频或音频放大 (LF),功率放大 (L)
封装形式: 直插封装
极限工作电压: 80V
最大电流允许值: 8A
最大耗散率: 25W
放大倍数: β>1000
最大工作频率: <1MHZ或者未知工作频率
引脚数: 3
可代换的型号: BD645F,BD647F,2SC4062,2SD1415,2SD1416,2SD1590,2SD1830,2SD1928,
1、盈普仪器科技(宁波)有限公司2、深圳市瑞盛科技有限公司
3、深圳市纳科科技有限公司
4、惠州市华高仪器设备有限公司
5、苏州安原仪器有限公司
扫描电子显微镜,简称:扫描电镜,英文名称:SEM(ScanningElectronMicroscope)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,
通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合,可以进行成分分析。所以SEM也是显微结构分析的主要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。
烧结试样的 SEM 分析采用日本日立公司生产的 S-520 扫描电子显微镜完成。首先将试样的新鲜断裂面在 IB-3 离子溅射渡膜仪中喷渡厚度约为 10 ~20 nm 的金,对结构致密的部分试样断裂面采用 40%浓度的氢氟酸 ( HF) 侵蚀 20min 后进行镀金,然后放入 SEM样品室内进行观察,电子枪电压采用 20kV,电子束流为 150 mA,并用照相方式记录样品的二次电子图像 ( 或称之为形貌像) 。
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