电镀层厚度如何测量？铜基镍镀层，除荧光光谱仪、电解测厚仪外有没有其它仪器可测量？

有一种X光射线的测厚仪

德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪

Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

自动测量功能：编程测量，自定测量

修正测量功能：底材修正，已知样品修正

定性分析功能：光谱表示，光谱比较

定量分析功能：合金成份分析

数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪

Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

SEM全称是扫描电子显微镜。

一般常用微观形貌观测模式。电流大小是由电流密度和镀件面积决定的，电流密度是由各电镀工艺决定的。那么，知道了这几个条件怎样计算镀层厚度或者时间呢？首先要了解电化当量的概念，所谓电化当量，就是单位电流和单位时间内能够镀出的金属的质量（重量），电镀常用的电化当量单位是克/安培小时，不同的金属有不同的电化当量，可以查相关资料得到，也可以自己计算出来，计算方法是金属的克当量（就是金属的原子量除以它的价数）除以26.8。

比如，镍的原子量是58.69，价数是2，它的克当量就是58.69/2=29.35，它的电化当量就是29.35/26.8=1.095（克/安培小时）。怎样由电化当量计算镀层厚度呢？举个例子，比如镀镍，已知电化当量是1.095克/安培小时，假定给的电流密度是3A/平方分米，那么1平方分米面积，镀1小时，就是3安培小时，就会镀出1.095乘以3，等于3.225克镍，这么多的镍分布在1平方分米的面积上，镍的密度（比重）是8.9，不难算出镀层厚度是3.6丝，考虑到电流效率不是100%，镀镍电流效率一般为95%，修正后镀层厚度就是3.6乘以0.95=3.4丝。

前，黄（铂）金饰品检测最常用的分析方法是X射线荧光光谱分析。尤其是能量色散型的仪器，因其体积小，价格低廉，自动化程度高以及实现了多元素同时分析等特点而被普遍采用。基于许多能量色散型仪器的用户缺乏从事X射线光谱分析的专门人才，对能量色散X射线光谱仪检测黄（铂）金产品，往往是“知其然，不知其所以然”，因而在一定程度上影响了它的推广应用。

早期的X射线光谱分析，基本上都是通过晶体衍射进行分光、检测。分光系统庞大，机加工要求精密度非常高，价格昂贵。70年代以来，计算机技术突飞猛进的发展，为能量色散X射线光谱分析提供了强有力的工具，能量色散型仪器随之也得到了迅速的发展。由于引入了现代电子技术及计算机技术的最新成就，其性能价格比更为优秀，更容易为广大用户所接受。其基本原理是：当样品被某种激发源（如X光管的初级辐射、放射性同位素）所激发，它就会发射出样品中所含元素的特征X射线。每种元素的特征X射线都具有特定的能量。探测这些特征X射线并识别其能量，也就能识别出被测样品中含有哪些元素，这就是定性分析；而具有某种能量的X射线强度的大小，是与被测样品中能发射该能量的荧光X射线的元素含量多少有直接联系，测量这些谱线的强度，并进行相应的数据处理和计算，就可以得出被测样品中各种元素的含量，这就是定量分析。

这里要特别强调的是，由于共存元素间的相互影响（吸收一增强效应），待测元素的含量与其特征谱线的强度之间通常并不呈线性关系。为了在待测元素的含量与其特征谱线的强度之间建立联系，必须通过各种方法进行数据处理。如为了克服由于正比计数管分辨率较差而造成的谱线重叠干扰，必须用数学方法将其分离（即所谓解谱法）；为了克服元素间的吸收—增强效应，根据检测的不同要求，分别采用经验系数法、理论。系数法或基本参数法等等。因此，仪器生产厂家是否为用户配备了有效的分析软件，应该是用户在选择时必须考虑的重要条件之一。

能量色散X射线光谱仪的主要特点可以概括为以下几点：第一，它是一种样品不受破坏的检测方法，也就是说被测样品在测量前后，无论其化学成份、重量、形态等等都保持不变，是一种真正意义上的无损检测方法，最适用于黄（铂）金类贵重产品的检测；第二，分析速度快，一般情况下，检测一个样品中的诸元素（如黄金产品中的金、银、铜、镍、锌，铂金产品中的铂、钯、铜、镍等等）只需3分钟左右；第三，精度高，准确度好，完全能够满足黄（铂）金检测的要求；第四，自动化程度高，由于现代电子计算机技术应用到能量色散X射线光谱仪中，使得用户只需放置样品，简单按动几个键，即可以得出检测结果。

当然，能量色散X射线光谱仪也有它的局限性。从使用角度讲，它最大的局限性是对于包金产品难于识别。这是因为被包裹在里面的金属（如铜、银等）的特征X射线，在穿透包裹层（金或铂）的过程中大部分或全部被吸收掉，探测器难于或根本探测不到这些特征X射线。它的另一个局限性就是作为高科技产品，它对环境条件要求苛刻一些。比如，它要求外部供电电源的稳定性要高些，一般要求另配净化稳压电源，以保证检测的精度和准确度，还要求环境应无尘、无电磁干扰，温度和湿度保持在一定范围并基本恒定等等。作为仪器生产者，在硬件制作和电路设计上，已经尽可能地采取了一些相应措施，但毕竟很难完全解决这个问题。它的第三个局限性是由于其非破坏性，就不可能在检测之前对样品进行均匀化（如溶解、熔融等样品预处理），因此，如果黄（铂）金产品在生产过程中产生“偏析”现象，其检测结果也会受到影响

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