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你看看电子显微镜的测试原理,SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言,不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像,所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好,SEM可能看不出。采用低真空模式或环境扫描模式(这两种模式一般都是要通入水蒸气,保持低真空度)。只不过清晰度会差一些,放大倍率倒是不会降低太多,一般1万或3万左右的放大倍数都没问题,主要是与喷金比较,会有些模糊,另外样品非常容易被电子束打的变形,留下烙印。
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SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
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