SEM照片下粒子灰度的深浅是由什么决定的?

SEM照片下粒子灰度的深浅是由什么决定的?,第1张

原子大小决定吧,SEM用的是隧穿效应,我做SEM扫描金属表面实验的时候读出来的数据都是电压,钨针尖上还要自己加偏压。金属混合物的微观结构是面心立方点阵结构(代表有铝、金、银、铜)和六方最密堆积结构(代表有镁、铍、锌、镉等)的混合,都是填隙六方结构,所以应该是金属原子浸没在电子海洋中的密堆积结构,由于充分混合后的对称性,原子间距只和整个体系的结合能有关,和是什么原子无关,所以原子位置早就定下来了。然后SEM扫到的距离只和表面原子半径大小的有关(前提光滑表面)。

SEM是扫描电子显微镜,最高可放大至20万倍左右,用二次电子成像的原理来观察某种物质的微观形貌。EDS是能谱仪,是每种元素对应的电子能不同,来鉴别元素,通常是和SEM结合使用,也就是说在SEM上安装EDS附件,在观看形貌时,选择一定区域用EDS打能谱,也就知道了该区域的元素组成。XRD是X射线衍射仪,其原理是高压下,阴极发出的电子形成高能电子束,轰击阳极靶材(通常是Cu),靶材的内部电子能量升高,被激发出来,当它回到基态的过程中,多余的能量以X射线、俄歇电子等形式释放出来。XRD收集的是其中的X射线,X射线扫到样品上,会根据布拉格方程产生衍射角,衍射峰。每种物质(不同样品)的衍射峰不同,因此通常用来鉴别物相,也会根据峰面积算半定量。


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