应该是在大应力作用下发生的
寻找断口的起源
一般是在宏观下
或者是低倍微观下观察
根据断口撕裂棱的走向
或者是解理河流花样的走向来判断源区的方向
脆断的宏观断口一般都会有明显的撕裂棱
根据这些应该能找到断口的起源部位
考虑一下该试样的受力情况
结合这个做出判断
高分子材料测sem可以不用脆断XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
评论列表(0条)