sem摄像头与电脑连不上

首先，先卸载你原来的程序

卸载方法：右击“我的电脑”-“属性”-“硬件”-“设备管理器”或者直接按Ctrl+F1,然后打开“通用串行总线控制器”，把下面的"Usb Root Hub"都删除掉。

还有就是打开“控制面板”的“添加删除程序”有没有摄像头的应用程序如vm301的程序卸载掉

2、然后重新启动，重启之后就会找到新硬件，这时不要选择自动安装，然后点击“下一步”，然后把“搜索软盘、CD rom”打钩，其它的有钩的通通去掉。并且放上光盘，不要从光盘里安装驱动。让系统自动搜索。

这样就可以安装成功了。

一、 驱动不容易安装的原因

1、 目前市面上流行的中星微摄像头驱动版本很多，许多用户在安装卸载驱动过程中残留有垃圾文件在系统注册表里面，造成后面的驱动更新过程中安装困难；

2、 目前市面上存在着一种克隆操作系统，里面集成了中星微旧版并同过了WHQL的驱动，当用户安装新买的摄像头或更新最新驱动后，摄像头无法正常工作；

方法一、自动卸载方法

步骤一、点击开始菜单中对应驱动的Uninstall卸载，（有可能Uninstall的功能已经破坏，那么可以通过安装新驱动进行反安装，系统会首先将旧驱动卸载掉，同样也可以达到目的。）

步骤二、在新的驱动安装前选择附件中以下相对应的可执行文件：

FOR_XP_ME_98.EXE 用于Windows XP/ME/98

FOR_Win2K.EXE 用于Windows 2000

（注意：该工具要求系统的默认路径是C盘才有效，在Windows ME/98操作系统下如出现错误对话框，表示系统已经干净了，该工具不会对已经安装的驱动产生危害）

步骤三、安装新的驱动

方法二、手动卸载方法

步骤一、在我的电脑－工具－文件夹选项－查看中将隐藏文件和文件夹选择为“选择所有文件和文件夹

然后到C:\Windows\inf文件夹中将所有的OEM文件（如oem0.inf，oem0.pnf；oem1.inf，oem1.pnf…）剪切并转移到另外的目录中保存或者手动删除掉该摄像头对应的oem文件

步骤二、完成上面的步骤后，插入USB摄像头，这时电脑会发现新硬件并弹出安装驱动的信息，选择取消，然后用鼠标右键点击我的电脑，选择属性，在弹出系统属性界面中，进入系统属性－硬件－设备管理器将带有感叹号的PC CAMERA按鼠标右键卸载

步骤三、拔除摄像头，开始安装新的驱动。

针对以上第二种现象

步骤一、克隆操作系统是将摄像头驱动默认存放在C:\Windows\Driver\Camera\301P文件夹下面，当你点击新的摄像头驱动光盘安装时，系统不会提示已经存在有摄像头驱动并把此驱动卸载，请把这个文件夹找到并删除掉；

步骤二、先安装新的摄像头驱动，再插上摄像头装载硬件，安装完成后重新启动电脑后可以正常使用；步骤三、不需重复以上两个步骤，直接点击新的光盘安装最新的驱动，插上摄像头后系统检测到新硬件，并自动完成硬件驱动装载；

扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）。背散射电子背散射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子，其中包括弹性背反射电子和非弹性背反射电子。弹性背反射电子是指倍样品中原子和反弹回来的，散射角大于90度的那些入射电子，其能量基本上没有变化（能量为数千到数万电子伏）。非弹性背反射电子是入射电子和核外电子撞击后产生非弹性散射，不仅能量变化，而且方向也发生变化。非弹性背反射电子的能量范围很宽，从数十电子伏到数千电子伏。从数量上看，弹性背反射电子远比非弹性背反射电子所占的份额多。 背反射电子的产生范围在100nm-1mm深度。背反射电子产额和二次电子产额与原子序束的关系背反射电子束成像分辨率一般为50-200nm（与电子束斑直径相当）。背反射电子的产额随原子序数的增加而增加（右图），所以，利用背反射电子作为成像信号不仅能分析新貌特征，也可以用来显示原子序数衬度，定性进行成分分析。二次电子二次电子是指背入射电子轰击出来的核外电子。由于原子核和外层价电子间的结合能很小，当原子的核外电子从入射电子获得了大于相应的结合能的能量后，可脱离原子成为自由电子。如果这种散射过程发生在比较接近样品表层处，那些能量大于材料逸出功的自由电子可从样品表面逸出，变成真空中的自由电子，即二次电子。二次电子来自表面5-10nm的区域，能量为0-50eV。它对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。由于它发自试样表层，入射电子还没有被多次反射，因此产生二次电子的面积与入射电子的照射面积没有多大区别，所以二次电子的分辨率较高，一般可达到5-10nm。扫描电镜的分辨率一般就是二次电子分辨率。二次电子产额随原子序数的变化不大，它主要取决与表面形貌。特征X射线特征X射线试原子的内层电子受到激发以后在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。 X射线一般在试样的500nm-5m m深处发出。俄歇电子如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量不是以X射线的形式释放而是用该能量将核外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种二次电子叫做俄歇电子。因每一种原子都由自己特定的壳层能量，所以它们的俄歇电子能量也各有特征值，能量在50-1500eV范围内。 俄歇电子是由试样表面极有限的几个原子层中发出的，这说明俄歇电子信号适用与表层化学成分分析。产生的次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子，标本在固定、脱水后，要喷涂上一层重金属微粒，重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理，采用不同的信息检测器，使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息；对x射线的采集，可得到物质化学成分的信息。正因如此，根据不同需求，可制造出功能配置不同的扫描电子显微镜。光学显微镜（OM）、TEM、SEM成像原理比较由电子枪发射的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成能谱仪获得。具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面 2 材料形貌分析观察作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作，产生二次电子发射（以及其它物理信号）。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。

专业拉伸和疲劳试样，处理如下：第一：断口切下来后【高度没有要求，所切试样尽量保持一样的高度（2mm左右），这样才能方便SEM，否则SEM时，要做的SEM断口都不在一个高度，很难对焦，严重影响图片的质量】第二:在有条件的情况下，断口最好全部用丙酮超声波清洗，纠正前面的错误，非酒精（作用：除油，除杂质）

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