SEM 实验

SEM 实验,第1张

烧结试样的 SEM 分析采用日本日立公司生产的 S-520 扫描电子显微镜完成。首先将试样的新鲜断裂面在 IB-3 离子溅射渡膜仪中喷渡厚度约为 10 ~20 nm 的金,对结构致密的部分试样断裂面采用 40%浓度的氢氟酸 ( HF) 侵蚀 20min 后进行镀金,然后放入 SEM样品室内进行观察,电子枪电压采用 20kV,电子束流为 150 mA,并用照相方式记录样品的二次电子图像 ( 或称之为形貌像) 。

配件名 数量 单价 品牌型号

CPU 1 560 AMD AM2 Athlon 64 X2 5000+ Black Edition

主板 1 599 精英 A770M-A

内存 2 260 威刚 万紫千红 DDRII667 2G

硬盘 1 490 希捷 酷鱼7200.10/ST3320620A(雷射代理)

显卡 1 499 七彩虹 逸彩8500GT-GD2 CF黄金版 512M F25

刻录机 1 299 先锋 DVR-215CHE

液晶显示器 1 1499 AOC 2016Sw

机箱 1 320 金河田 睿霸2872B

音箱 1 165 麦博 M222

键鼠套装 1 99 双飞燕 KL-2350D防水飞燕光电套装

价格总计:5050.0

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