怎么统计sem膜孔不规则孔径分布

）先做一个N2吸附测试，得到吸附等温线；然后用不同的计算模型分析表面积和孔径分布；

2）比表面积可以看BET数据或langmuir数据，大部分人喜欢用BET数据；

3）孔径分布可以参考DFT、HK或BJH数据，这个由材料的孔径确定。

这个问题，是大家都很关注的。因为NF膜表面的话SEM是得不到数据的，AFM也不行的。。SEM就算放大30W倍也不行个。。在此，给大家介绍一个相较可行的方法： 膜的孔径测量一般用汞压法可以测量。首先要说明白，膜的表面孔径是一个平均孔径，它和膜的孔隙率都是表征膜的重要数据。但是一般要说膜的截留性能，尤其是超滤或纳滤膜，一般使用截留分子量来表示。因为到了微米或纳米级别的膜孔，很难用直接观察到孔径和孔隙率，当然，如果用氮气吸附作空隙率和平均孔径的话也是有人这么做过，但是由于膜的支撑层的孔径更大，所以数据是没有什么意义的。 可以间接测量，比如某种分子的脱除率，或者测截留分子量比如需要测定100-200nm孔径的中空膜，可以选择300nm.100nm的微粒溶液，进行测定其阻止率，用来说明此孔径的具体分布。。。相对比较好用。而且，在日本的很多公司也都认可，该方法测定的数据。

这些方法包括气体吸附法、压汞法、电子显微镜法（SEM 或 TEM）、小角 X 光散射（SAXS）和小角中子散射（SANS）等。2010年，美国分散技术公司（DT）和美国康塔仪器公司还联合开发了电声电振法，比利时 Occhio 公司开发了图像法大孔分析技术。总体来说，每种方法都在孔径分析方面有其应用的局限性。

纵观各种孔径表征的不同方法，气体吸附法是最普遍的方法，因为其孔径测量范围从0.35nm到100nm以上，涵盖了全部微孔和介孔，甚至延伸到大孔。另外，气体吸附技术相对于其它方法，容易操作，成本较低。如果气体吸附法结合压汞法，则孔径分析范围就可以覆盖从大约0.35nm到1mm的范围。气体吸附法也是测量所有表面的最佳方法,包括不规则的表面和开孔内部的面积。

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