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你的镀膜喷的是什么金属,金,pt,Pt/Pa,还是Ir?如果是Au,Pt的可以用王水溶掉吧我没做过,只是猜测。至于镀层厚度,要看你的具体情况了,几个nm到十几个nm都有。如果你做能谱可能要薄一点,如果想观察到清晰图像,不被样品的二次电子干扰,可能就要厚一点。检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜,硅片是生产集成电路、分立器件、传感器等半导体产品的关键材料,是半导体产业链基础性的一环。这个差异有点大可能是制备扫描样品时,样品团聚造成的,而透射可能是样品分散可以做个对比实验,制备扫描样品时,也采用透射的方法,滴在玻璃片上或是硅片上,再看看形貌,来判断一下什么原因造成的形貌差异
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我的世界蛤蟆吃服务器
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2023-03-08
舰r的安卓和ios服通么
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