你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下么··谢谢··做实验有点急用··

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。

另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了，基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片，必须保持分散液状态来做电镜扫描。

问题不详。。

粒径大概范围是多少？SEM有自身的分辨率限制的。。不同设存在差异，好的2nm左右。。

如果分辨率可接受。就是测量方法的问题，根据放倍率进行换算。。如有标准物进行校准是最好的。

利用ImageJ打开图片文件。

点击ImageJ菜单栏中File--Open,找到想要打开的TIF或者JPG文件，将其打开 。 在工具栏中找到画线工具，然后采用它画一条直线，与标尺长度重合 。在ImageJ的菜单栏中找到Analyze-->Set scale,在弹出来的窗口中，Known Distance一栏中填入标尺的已知长度，Unit of Length中更改标尺的单位。然后，点击OK完成标尺的设置。

采用画线工具，划出某一颗粒的直径（如果颗粒太小，可以采用缩放工具进行缩放），然后点击菜单中Analyze-->measure,在弹出的result窗口中，length即为测得的纳米颗粒粒径数据。 点击Analyze-->Label即可，每量取一个纳米颗粒之后，Label一下，可以避免重复统计。待100颗纳米颗粒全部统计完毕之后，点击result窗口，在菜单中选取save as进行保存，会得到一个XLS文件。 打开xls文件，将length这一列数据拷贝到origin中。 选中该列，然后点击Origin菜单栏中Statistic-->Descriptive Statistic-->Frequency count在弹出的窗口中可以选择统计的参数，包括最小值（minimum），最大值（maximum），增量（Incremen）等。 选中其中的count一栏，然后做column图，并对坐标轴进行美化，点击Origin菜单栏中Statistic-->Descriptive Statistic-->Statistics on column，在弹出的窗口中，可以看到平均值和标准差 。

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