可以测。可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。SEM的工作原理与使用方

可以应用变量变换的方法,将不服从正态分布的资料转化为非正态分布或近似正态分布。常用的变量变换方法有对数变换、平方根变换、倒数变换、平方根反正玄变换等，应根据资料性质选择适当的变量变换方法。1、对数变换 即将原始数据X的对数值作为新的分布数据

一、含义不同mean表示都是平均数。SEM是standard error of mean是平均数的抽样误差，反应平均数的抽样准确性。SD全称standard deviation标准差，又常称均方差，是离均差平方的算术平均数的平方根，用

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一、意思不同mean都是平均数。SD全称standard deviation标准差，又常称均方差，是离均差平方的算术平均数的平方根，用σ表示。SEM是standard error of mean是平均数的抽样误差，反应平均数的抽样准确

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测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收

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