聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像、加工、分析、操纵于一体的分析仪器。其应用范围也已经从半导体行业拓展至材

fib带有sem功能；fib另外的功能就是微加工。sem是电子束成像原理。fib中带有电子束成像，也可以离子束成像（一般不用，对样品表面形貌损伤太大）。如果您只观察形貌的话，用sem即可，fib的电子束成像方面和sem都一模一样。谢谢！注:

氮化碳测sem不需要喷金。低分辨率下，要不要喷金根据材料电导率决定，一般分辨率会比较清晰高分辨率下（0.5微米往下），导电不好的材料表面会模糊不清。喷金之后，表面导电性改善，分辨率能达到几十纳米左右。所以金属样品不用喷金，而陶瓷纳米颗粒样品

1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微加工.SEM是电子束成像原理.FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样

氧化锌陶瓷对其表面做SEM，需要腐蚀对于氧化锌的光腐蚀,很少看到详细原理,一般我们可以通过掺杂其他物质或者引入其它氧化－还原电解质进行表面保护来解决.我觉得主要是氧化锌的化学性质不稳定,紫外光照射后,形成的光生电子-空穴具有很强的氧化还原能

具体看看你的样品有什么特征了，要能很好的分散在溶剂中，如果太黏，制样的效果不好；还有就是如果忖度太低，需要染色，这样效果要好点。制样：一般附在铜网上，制成液体，滴在铜网上，干燥就行了聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基

1、广东先导稀材股份有限公司成立于2003年，座落于山清水秀的广东省清远市清新县禾云工业区，紧邻107国道，距离广州市100公里。公司注册资金3.5亿人民币，占地面积1000余亩，拥有生产厂房及配套设施5万余平方米，员工800余人，其中专业

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

用sem区分四氧化三铁可以用于纳米级样品的三维成像。扫描电子显微镜sem和高度激光粒度仪对四氧化三铁纳米片进行了表征。将四氧化三铁纳米片加到基础油液体石蜡LP中，在UNT摩擦磨损实验机上考察其作为LP添加剂后的摩擦磨损性能，采用SEM分析磨

1、盈普仪器科技（宁波）有限公司2、深圳市瑞盛科技有限公司3、深圳市纳科科技有限公司4、惠州市华高仪器设备有限公司5、苏州安原仪器有限公司扫描电子显微镜，简称：扫描电镜，英文名称：SEM(ScanningElectronMicroscop

注: 并非用Ga+才叫FIB(In, Au.AsPd2),只是大多数商用FIB都是用Ga,因为-?(整理好在写).Focused(聚焦): 将离子束聚焦Ion(离子): Ga --- Ga+Beam(束):很多离子往同一路径(方向)移动__

检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜，硅片是生产集成电路、分立器件、传感器

对于零维和一维纳米材料，SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂，超声波分散，离心沉淀后用吸管取上清液，滴在干净的硅片或载玻片上，干燥后用导电胶带粘取。具体沉淀时间或离心机的参数，需要多做几次试验，针对不同的材料特点，选择好的条件。纳

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微纳加工。SEM是电子束成像原理.FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样.你好，大

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微加工.SEM是电子束成像原理.FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。以目前实验室配有