扫描电镜原理：电子与物质相互作用会产生透射电子，弹性散射电子，能量损失电子，二次电子，背反射电子，吸收电子，X射线，俄歇电子，阴极发光和电动力等等。电子显微镜就是利用这些信息来对试样进行形貌观察、成分分析和结构测定的。电子显微镜有很多类型，

B打不出来原因有以下几点：1、能谱峰显示的一般是质量百分比，B的原子序数很靠前，与其他相同数量的元素相比，B的峰会小很多，能谱理论检测限在0.1%wt，因此可能识别不到；2、能谱检测结果经常会有C峰出现，C峰和B峰很接近，可能把B峰掩盖；3

扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源。在2-30KV的加速电压下，经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统，电子束会聚成孔径角较小，束斑为5-10m m的电子束，并在试样表面聚焦。 末级透镜上

电镜辐射来源主要源于，电子枪发射的电子束和电子束激发样品表面出来的各种信号。而电子束直径只有纳米到10纳米级别，因此产生的辐射很少很少。同时，电镜电子枪位置有大块铅块吸收辐射，样品仓由很厚的金属材料做成，因此对于电镜整体而言，几乎没有对外的

是不可以的。在s4800扫描电镜中，灯丝不更换会导致灯丝老化，使用效果变差，拍出来的图片质量不佳，象散也很难调好，所以s4800扫描电镜灯丝不更换是不可以的。扫描电镜指扫描电子显微镜。扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显

相同：都是电子枪即发射电子的装置,都有阴极和阳极,阴极都是点源发射,阴极和阳极之间有直流高压电场存在,高压一般可调,用于控制电子的发射速度（能量）,电子枪发射的电流强度很小,微安级别和纳安级别,为防止气体电离造成的大电流击穿高压电源,都需要

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

相同：都是电子枪即发射电子的装置，都有阴极和阳极, 阴极都是点源发射，阴极和阳极之间有直流高压电场存在，高压一般可调，用于控制电子的发射速度（能量），电子枪发射的电流强度很小，微安级别和纳安级别，为防止气体电离造成的大电流击穿高压电源，都需

相同：都是电子枪即发射电子的装置,都有阴极和阳极,阴极都是点源发射,阴极和阳极之间有直流高压电场存在,高压一般可调,用于控制电子的发射速度（能量）,电子枪发射的电流强度很小,微安级别和纳安级别,为防止气体电离造成的大电流击穿高压电源,都需要

打开电源启动检测。1、可能是电镜灯泡坏了，请更换灯泡。2、或者检查电源是否接触不良。3、如果仍然不亮，可能还有其他问题，建议去专业机构检测修复。如果是即将开始学习仪器操作的管理人员，建议先系统学习理论知识，再找专业的仪器工程师培训。如果是学

简单的理解就是机器需要休了。这是因为SEM长时间工作，电子枪上沉积的不少污染电荷，需要flash步骤来回复电子枪的正常工作状态。连续做样的情况下normalflash一般最长8个小时左右需要做一次。可能你还没有机会接触更深，也就是说还没有机

打能谱的时候，扫描电镜是切换到edx模式的，在这个模式下主要是采集元素的信息，图像的信息都是要切回到sem模式下采集的，而且一般edx模式下，你所加的电压时比较大的，一般能谱15kv，sem图像5kv，而且能谱模式下，工作距离也远一些，所以

SEM和XRD基本是两个东西……SEM看形貌，打能谱看成分，高中生都能懂，但是看组织什么的还得学习，操作基本可以放给训练过的人自己做XRD是分析相组成，速度快不用抽真空，还很便宜，但是数据分析比较麻烦需要专门学习，对晶体学理论要求较高。操作

如果是即将开始学习仪器操作的管理人员，建议先系统学习理论知识，再找专业的仪器工程师培训。如果是学生，要使用电镜，从安全角度考虑，1、2、3几项通常是值机人员完成的。我可以简单的向你介绍一下：1、主要是电源，只要能正常开机，一般无问题；2、加

如果是即将开始学习仪器操作的管理人员，建议先系统学习理论知识，再找专业的仪器工程师培训。如果是学生，要使用电镜，从安全角度考虑，1、2、3几项通常是值机人员完成的。我可以简单的向你介绍一下：1、主要是电源，只要能正常开机，一般无问题；2、加

分类:外语出国问题描述:SEM的原理是什么？解析:(SEM)扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

扫描电子显微镜简称为扫描电镜，英文缩写为SEM。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面，通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。现在扫描式电子显微镜都与能谱（EDS）组合，可以进行成分分析。所以，扫描

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、一、名称不同1、SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。2、TEM，英文全称：Tran