透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的，如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况，你就必须要用TEM来观察了，SEM通常看材料的缺口断面，当然还有许多其他应用。SEM是电子束激发出表面次级电子,

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：

最主要的区别是：SEM是通过反射的方式采集信号TEM是通过透射的方式采集信号1、样品属性大概必须都是固体，干燥、无油、尽量导电。TEM获得材料某个剖面的组织形态，sem获得的是材料表面或者是断面的组织形态。透射电镜不可以看表面形貌，而扫描电

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。1、首先打开PS，左侧工具栏中选择

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可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。1、首先打开PS，左侧工具栏中选择

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图1、高真空环境是分子流，湿的样品不断释放水蒸气，使高真空情

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

有条件最好使用FIB-SEM, 所谓双束扫描电镜，边制备断面，边观察。没条件，断面制备只能镶嵌剖磨，或者液氮脆断。瞎试验一下子！然后任何SEM都可以观察！15分钟。当反应温度20℃，搅拌时间15 min，静置60 min。caco3微球：以

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

橡胶的拉伸应力应变性能 (主要指拉伸强度和扯断伸长率 )是检验和控制橡胶产品质量的主要指标。硫化橡胶或热塑性橡胶的拉伸应力应变性能的测定 ,是基本的应用广泛的评价橡胶物理性能的试验之一。影响橡胶拉伸性能试验的因素很多，总的可分为两个方面，一

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

有条件最好使用FIB-SEM, 所谓双束扫描电镜，边制备断面，边观察。没条件，断面制备只能镶嵌剖磨，或者液氮脆断。瞎试验一下子！然后任何SEM都可以观察！15分钟。当反应温度20℃，搅拌时间15 min，静置60 min。caco3微球：以

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可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图最主要的区别是：SEM是通过反射的方式采集信号TEM是通过

一般来讲，看扫描电镜之前，你要清楚自己想要看什么，看到什么样的图片是你比较满意的。如果你想看物相分布，需要在背散射下看，不同的元素化合物亮度不同，需要把试样表面磨平抛光，试样松散的话要用树脂固化之后再磨平；如果想看试样生成物的形貌，则二次电

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

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