其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分

1、比例尺计算公式：图上距离=实际距离×比例尺，实际距离=图上距离除以比例尺，比例尺=图上距离除以实际距离.在比例尺计算中要注意单位间的换算。2、比例尺求法举例：图上2厘米表示实际300千米，可以这样求比例尺2厘米比300千米=2厘米比30

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

SEM图片不能完全说明问题。但是，你这个是团聚无疑的。整体照出来效果也不是很好。边界模糊看不清楚。另外你的石墨烯片层估计较厚，一般单层或双层石墨烯的contrast会比较浅。如果条件允许，建议AFM测试。lz应该要看测试什么粒度范围的粉末，

观察不同类型的材料做对比的话，尽量选取相同放大倍数的照片进行对比。这样的话更有说服力，SEM最大的作用就是观察材料的微观结构和形貌，如果准备写文章的话，文章中将你的SEM照片视野范围内的现象描述清楚即可。1、放大率：与普通光学显微镜不同，

英文缩写 FE-SEM英文全称 Field Emission Scanning Electron Microscope中文解释 电场枪扫描电子显微镜缩写分类 电子电工 数学物理缩写简介 一楼回答的是针对纳米棒吧？1、纳米颗粒

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分

问题不详。。粒径大概范围是多少？SEM有自身的分辨率限制的。。不同设存在差异，好的2nm左右。。如果分辨率可接受。就是测量方法的问题，根据放倍率进行换算。。如有标准物进行校准是最好的。粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分

孔隙率测量方法如下：1、测量孔隙率，需要结合测量的工具，它是基于阿基米德的原理，实验的过程当中需要通过水煮法来测定电极的孔隙率。将样品先承重，记为M0。放到干净的烧杯中，注入水，直至淹没，接下来再将烧杯直接放到干燥箱中，先要加热，直到沸腾。

孔隙率测量方法如下：1、测量孔隙率，需要结合测量的工具，它是基于阿基米德的原理，实验的过程当中需要通过水煮法来测定电极的孔隙率。将样品先承重，记为M0。放到干净的烧杯中，注入水，直至淹没，接下来再将烧杯直接放到干燥箱中，先要加热，直到沸腾。

测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收

测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

纳米颗粒粒径大小可以用TEM、SEM等技术测量粒径分布可以采用DLS、原子力显微镜、梯度离心、电泳等方法比表面积可以BET的方法。其他的就不清楚了，可能还有新的方法 纳米材料是指三维空间尺寸中至少有一维处于纳米数量级 (1~100