扫描电子显微镜 SEM(scanning electron microscope) 工作原理：1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作

扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤

你这属于逆光拍摄，由于背景过亮，照相机会认为光线太强而减少曝光量，就很容易导致人物曝光不足而发黑。解决的方法就是增加曝光量，逆光拍摄时要表现人物的话要视情况进行曝光补偿二至三档（一般相机都有曝光补偿功能）。对于已经拍好的照片，可以使用pho

1、性质不同：二次电子像是以入射方向逸出样品的电子。背散射电子像是在扫描电子显微镜中，通过电子枪产生的电子，经过加速磁场、偏转磁场后，照射到待检测的样品表面，待检测样品会反射一部分的电子。2、特点不同：在扫描电子显微镜的工作镜腔里的背散射

考点：细胞观察实验 专题：分析：显微镜的放大倍数=物镜的发大倍数×目镜的放大倍数．人的肉眼分辨率大于100微米，则显微镜的放大倍数应该大于该分辨率，即物镜的发大倍数×目镜的放大倍数≥人的肉眼分辨率． 物镜的分辨率最小为0.2微米

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微纳加工。SEM是电子束成像原理.FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样.扫描电镜

是的。扫描电镜（扫描电子显微镜SEM），其电子枪发射出的电子束被磁透镜汇聚成极细的电子“探针”，在样品表面进行扫描，电子束可激发样品表面放出二次电子，二次电子产生的多少与样品表面的形貌有关。二次电子由探测器收集，并在那里被闪烁器转变成光信号

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

sem测试不同样品测试结果不同有：1、结构差异。主要体现在不同样品在电子束光路中的位置不同；2、焦深不同。电子束在穿过样品时,会和样品中的原子发生散射,样品上某一点同时穿过的电子方向不同。可以测。可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在

1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

测量时间因样品类型和测试要求而不同。电镜测量过程包括：制样→放样→确认位置→拍照、测试等。1、对于简单样品，可能不需要特别制样，直接取样放样（要抽真空）就可以，该过程可能需要几分钟到十几分钟；对于负责样品，可能需要断开、抛光腐蚀或者其他处理

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：SE

相同：都是电子枪即发射电子的装置,都有阴极和阳极,阴极都是点源发射,阴极和阳极之间有直流高压电场存在,高压一般可调,用于控制电子的发射速度（能量）,电子枪发射的电流强度很小,微安级别和纳安级别,为防止气体电离造成的大电流击穿高压电源,都需要

品牌型号：sfmit扫描电镜系统：DSF-60扫描电镜是用来测样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，

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1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜