推荐一本书，关于 XRD,XPS,TEM,SEM,UV,等。
刘粤惠、刘平安，X射线衍射分析原理及应用，化学工业出版社，北京，2003 ；祁景王，X射线结构分析，同济大学出版社，上海，2003；黄量，于德泉，紫外光谱在有机化学中的应用，北京：科学出版社，2000；关于“XRD,XPS,TEM,SEM”
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刘粤惠、刘平安，X射线衍射分析原理及应用，化学工业出版社，北京，2003 ；祁景王，X射线结构分析，同济大学出版社，上海，2003；黄量，于德泉，紫外光谱在有机化学中的应用，北京：科学出版社，2000；关于“XRD,XPS,TEM,SEM”
电磁透镜在tem和sem中的区别
SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。扫描电镜是相当与对物体的照相 得到的是表面的 只是表面的 立体三维的图象 因为扫描的原理是“感知”那些物提被电子束攻击后发出的此级电子 而透射电竟就相当于普通显微镜
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----
电磁透镜在tem和sem中的区别
SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。扫描电镜是相当与对物体的照相 得到的是表面的 只是表面的 立体三维的图象 因为扫描的原理是“感知”那些物提被电子束攻击后发出的此级电子 而透射电竟就相当于普通显微镜
土的SEM下的孔隙率如何计算
代价太高，需要3D技术，也就是层层计算。 土壤的某一个截面的孔隙率是非常好计算的，但体积分数就很难，只能切片，照相，然后3D拟合，最后计算出精确地孔隙率。如果对于微观结构不必要了解，用其他方法更简单使用。利用扫描电镜(SEM)图像和IPP图
土的SEM下的孔隙率如何计算
代价太高，需要3D技术，也就是层层计算。 土壤的某一个截面的孔隙率是非常好计算的，但体积分数就很难，只能切片，照相，然后3D拟合，最后计算出精确地孔隙率。如果对于微观结构不必要了解，用其他方法更简单使用。利用扫描电镜(SEM)图像和IPP图
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----
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如何用IPP测量图像的分形维数
利用扫描电镜(SEM)图像和IPP图像技术对土壤微结构作定量分析,包括图像分割、图像形态学处理、土壤团聚体和孔隙的尺寸测量与计数、土壤微结构的三维模拟等。结果表明:由于土壤团聚体与孔隙的边缘十分复杂而难于区分,采用目视分割法确定阈值可保证图
如何用IPP测量图像的分形维数
利用扫描电镜(SEM)图像和IPP图像技术对土壤微结构作定量分析,包括图像分割、图像形态学处理、土壤团聚体和孔隙的尺寸测量与计数、土壤微结构的三维模拟等。结果表明:由于土壤团聚体与孔隙的边缘十分复杂而难于区分,采用目视分割法确定阈值可保证图
如何用IPP测量图像的分形维数
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