问题不详。。粒径大概范围是多少？SEM有自身的分辨率限制的。。不同设存在差异，好的2nm左右。。如果分辨率可接受。就是测量方法的问题，根据放倍率进行换算。。如有标准物进行校准是最好的。其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

zhaohaixing(站内联系TA)纳米粒子的比表面积达，表面能大所以有团聚的倾向，设法降低其表面能可以减低团聚倾向，采用一些表面活性剂对纳米粒子进行表面改性，可以降低纳米粒子的表面张力，以此来防止其团聚！过滤的方法肯定是不行的，可以采用

zhaohaixing(站内联系TA)纳米粒子的比表面积达，表面能大所以有团聚的倾向，设法降低其表面能可以减低团聚倾向，采用一些表面活性剂对纳米粒子进行表面改性，可以降低纳米粒子的表面张力，以此来防止其团聚！过滤的方法肯定是不行的，可以采用

英文缩写 FE-SEM英文全称 Field Emission Scanning Electron Microscope中文解释 电场枪扫描电子显微镜缩写分类 电子电工 数学物理缩写简介 一楼回答的是针对纳米棒吧？1、纳米颗粒

扫描电镜是可以用来看看那个产物最终的形貌的，但是EDS只是个半定量的分析---个元素的含量的，你可以用那个ICP进行分析下，这样的话，可能会准确点；或者使用原子吸收光谱法进行测定，但是前提是你知道大概有哪些元素构成了你的产物，也就是你的反应

英文缩写 FE-SEM英文全称 Field Emission Scanning Electron Microscope中文解释 电场枪扫描电子显微镜缩写分类 电子电工 数学物理缩写简介 一楼回答的是针对纳米棒吧？1、纳米颗粒

扫描电镜是可以用来看看那个产物最终的形貌的，但是EDS只是个半定量的分析---个元素的含量的，你可以用那个ICP进行分析下，这样的话，可能会准确点；或者使用原子吸收光谱法进行测定，但是前提是你知道大概有哪些元素构成了你的产物，也就是你的反应

zhaohaixing(站内联系TA)纳米粒子的比表面积达，表面能大所以有团聚的倾向，设法降低其表面能可以减低团聚倾向，采用一些表面活性剂对纳米粒子进行表面改性，可以降低纳米粒子的表面张力，以此来防止其团聚！过滤的方法肯定是不行的，可以采用

石墨二次颗粒相对于一次颗粒优缺点如下：1、一次颗粒的加入一般还会导致复合材料在循环过程中的膨胀，不利于电池长循环性能的稳定2、二次颗粒良好的循环性能，同时单颗粒粒径小，二次颗粒粒径大，二者堆积填充优势互补，改善浆料的加工性能，降低极片的反弹

石墨二次颗粒相对于一次颗粒优缺点如下：1、一次颗粒的加入一般还会导致复合材料在循环过程中的膨胀，不利于电池长循环性能的稳定2、二次颗粒良好的循环性能，同时单颗粒粒径小，二次颗粒粒径大，二者堆积填充优势互补，改善浆料的加工性能，降低极片的反弹

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收

测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸，以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后，统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使