可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。楼上说的是错的。SHERR公式计算

对于快速地检测电子束曝光制造出的小纳米结构的尺寸和缺陷并保证其不受到损伤是纳米加工进入10nm尺度面临的另一重大技术问题。同时,在集成电路制造中,多层制造需要对标记进行极高精度的检测"显然,光学的无损伤检测方式己无法应用于10nm

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SEM作为显微镜，可以放大微观物体形态，一般允许误差在放大倍数±5%。在相同工作条件下，放大倍数一般不会漂移，精度可靠。但随着温湿度变化，随着电磁环境变化，可能会有漂移。因为SEM放大和光学显微镜放大完全不同，完全靠扫描线圈和电器元件控制，

很明显就是软件和系统不兼容，你要尝试低版本的cdspace。cdspace5对win2000或xp是没问题，那么一定在98下有问题。 我推荐 DAEMON Tools 世界上最好的虚拟光驱，比cdspace好很多倍，使用简单，而且不用注册。

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numeric 列的精度引用选定数据类型所使用的最大位数。 对于多数数据类型，列精度由数据类型自动定义。 如果希望重新定义数据类型为 decimal 和 numeric 的列的长度，可以更改这些列的精度。对于数据类型不是 decimal 和

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SEM仪器能区分清2个点之间的最小距离就是这台仪器的最高分辨率，分辨率越高，从图像上就可能可以看出更多细致的东西；而放大倍数是指图像长度与真实观察长度的比值，片面的追求高放大倍数并没有什么实际的意义，因为它的最大放大倍数定义为：有效放大倍

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我自己碰到的图像漂移有：1。样品固定不牢固，或者样品太。因此样品大小要合适，并用导电胶固定牢固。2。刚放入样品，开始观察时图像漂移较大，可等半小时左右在开始，图像漂移消除或减弱。3。样品导电性差，荷电现象导致图像漂移不清楚，可降低电压或者样

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