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原子力AFM分辨率很高，通常看物质表面形貌，纵向达到10nm级是无压力的。透射TEM一般标尺可以到20nm，不过具体看材料能做到多少，如果是高分辨HRTEM，那是用来看晶格的，标尺甚至可以达到2nm。扫描SEM的话至少可以到微米级，场发射扫

电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1

扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织

二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平

一、内容概述电子探针（EPMA）是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线，对特征性X射线进行分光和强度测定，得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器（WDS），与能量色散型X

SEM说俗了 就是用高速的电子打击标本 捕获打回来的电子 然后电脑分析 得到的图象就是物体表面的照片 和普通黑白照片没区别 只不过是很小很小的物体 在纳米级别上的迷你照片~ 电子探针就不一样了 全名为电子探针X射线显微分析仪一、内容概述电

不破坏样品:经过电子探针分析的样品,并不受到任何破坏,还可以进行其它方面的测定,这对稀少珍贵的样品,如陨石、月岩及极难发现的新矿物,电子探针分析是最理想的分析手段。2.直观:电子探针除了能进行点分析外,还可以进行线扫描和面分析,这对了解样品

当冰层探针探测冰层的厚度足够时，电子控制板控制压缩机停止工作。当冰板在汽水使用高峰期损耗，探针探测冰层厚度不足时，电子控制板控制压缩机启动，开始制冷重建冰板，这样周而复始确保饮料得到合格的温度。TaqMan探针广泛应用于定量基因表达和等位基

抛光为镜面后直接在金相显微镜下观察空洞，一般呈黑色，有景深，如果不能确定空洞可以用sem观察。注意，观察空洞要求研磨力道，而且表面一定要处理干净，不要把一些水渍等误认为空洞金相观察是依赖可见光的反射,其原理是被腐蚀的晶界处发生漫反射,在照片

SEM说俗了就是用高速的电子打击标本 捕获打回来的电子然后电脑分析 得到的图象就是物体表面的照片和普通黑白照片没区别 只不过是很小很小的物体 在纳米级别上的迷你照片~电子探针就不一样了 全名为电子探针X射线显微分析仪 又名微

大家说得很对，如果要实现几百万倍的放大效果，就只能用扫描隧道显微镜一类的家伙了。他的原理的确不是一两句说得明白的，不过我以前回答过这个问题，在网上找到一些资料，估计你看了能明白过来。粘贴在下面：隧道电流强度对针尖与样品表面之间距离非常敏感，

扫描电镜(scanningelectronmicroscope，SEM)，可观察金相组织，断口形貌等；若SEM配备有能谱仪EDS（EnergyDispersiveSpectrometer），也是可以做成分分析的，不过一般做定性，确定夹杂物等

SEM是扫描电子显微镜，主要用于电子显微成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征分析，最常用的是聚焦电子束和样品相互作用区发射出的元素特征X-射线，可用EDS或者WDS进行探测分析，获得微区（作用区）元素成分信息，而EDS或者WDS这类电

20-100万倍。碳纳米管，又名巴基管，是一种具有特殊结构（径向尺寸为纳米量级，轴向尺寸为微米量级，管子两端基本上都封口）的一维量子材料。碳纳米管sem20-100万倍之间连续可调，有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样。

一、性质不同1、SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。2、TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。二、原理不同1、T

一般免费的都不好用。而且申请起来比较繁琐。既然你需要就向你推荐几个，自己去试试吧！！1.坛海科技提供15MASPFTP免费空间注册后自行购买支持中文Access不限文件大小无限流量IIS限10控制面板可以要求代装DVBBS 详情见：

气相色谱仪的组成部分有哪些？气相色谱仪的基本结构由分析单元和显示单元组成。前者主要包括气源及控制计量装置、取样装置、恒温装置和色谱柱。后者主要包括验证机和自动记录仪。色谱柱(包括固定相)和校准品是气相色谱仪的核心部件。(1)载气系统气相

SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪。能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子