electron
microscope,SEM),可观察金相组织,断口形貌等;若SEM配备有能谱仪EDS(Energy
Dispersive
Spectrometer),也是可以做成分分析的,不过一般做定性,确定夹杂物等用的。
电子探针(Electron
probe
micro-analyzer,EPMA),可对试样进行微小区域成分分析,除H、He、Li、Be等几个较轻元素外,都可进行定性和定量分析。
X射线(x-ray
phase
analysis),钢铁材料一般用来做相分析用的,即确定组织中用哪些相组成,一般为铁素体,奥氏体相等。
看你应该是从事金属材料专业的吧,希望对你有用,还有问题可以问我,我是做钢铁产品研发的
SEM是扫描电子显微镜,最高可放大至20万倍左右,用二次电子成像的原理来观察某种物质的微观形貌。EDS是能谱仪,是每种元素对应的电子能不同,来鉴别元素,通常是和SEM结合使用,也就是说在SEM上安装EDS附件,在观看形貌时,选择一定区域用EDS打能谱,也就知道了该区域的元素组成。XRD是X射线衍射仪,其原理是高压下,阴极发出的电子形成高能电子束,轰击阳极靶材(通常是Cu),靶材的内部电子能量升高,被激发出来,当它回到基态的过程中,多余的能量以X射线、俄歇电子等形式释放出来。XRD收集的是其中的X射线,X射线扫到样品上,会根据布拉格方程产生衍射角,衍射峰。每种物质(不同样品)的衍射峰不同,因此通常用来鉴别物相,也会根据峰面积算半定量。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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