从书上查了一些内容，书的年代比较久远，可能买不到...有兴趣的话，尝试着去图书馆借一下吧。SEM工作时，电子枪发射的入射电子束打在试样表面上，向内部穿透一定的深度，由于弹性和非弹性散射形成一个呈梨状的电子作用体积。电子与试样作用产生的物理信

1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。3.sem是一种电子显微镜

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

一般应该是对比AgTiO2和TiO2之间的SEM，具体分析的内容应该包括：Ag粒子在TiO2表面的分布是否均匀；AgTiO2和TiO2单一样品（如球或是花）的尺寸变化（均匀，变大，变小）AgTiO2和TiO2整体样品的均匀性和分散

baoyanl(站内联系TA)二手的你敢用吗？这样精密件，非常容易坏，你修的钱就够买新了。建议买中科院的KYKY，我们这用了二十多年了，都过使用期了，还修修凑合用。价钱低，当然性能确实不如小鬼子的。baoyanl(站内联系TA)还有一个推荐

1.扫描电子显微镜 编辑本义项sem求助编辑百科名片SEMSEM是scanning electron microscope的缩写，中文即扫描电子显微镜，扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制

SEM仪器能区分清2个点之间的最小距离就是这台仪器的最高分辨率，分辨率越高，从图像上就可能可以看出更多细致的东西；而放大倍数是指图像长度与真实观察长度的比值，片面的追求高放大倍数并没有什么实际的意义，因为它的最大放大倍数定义为：有效放大倍

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑扫描电子显微镜 SEM(scanning

SEM仪器能区分清2个点之间的最小距离就是这台仪器的最高分辨率，分辨率越高，从图像上就可能可以看出更多细致的东西；而放大倍数是指图像长度与真实观察长度的比值，片面的追求高放大倍数并没有什么实际的意义，因为它的最大放大倍数定义为：有效放大倍

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、一、名称不同1、SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。2、TEM，英文全称：Tran

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1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。3.sem是一种电子显微镜

低分辨率下，要不要喷金根据材料电导率决定，一般分辨率会比较清晰高分辨率下（0.5微米往下），导电不好的材料表面会模糊不清。喷金之后，表面导电性改善，分辨率能达到几十纳米左右。所以金属样品不用喷金，而陶瓷纳米颗粒样品最好在表面镀层铂金。如果在

1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

电镜ceta是扫描电镜和能谱分析仪，电镜ceta能谱分析仪包含两台仪器，即扫描电镜和能谱分析仪，扫描电镜简写为SEM，其原理是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息，通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表

````应该是景深吧``焦深计算公式L= ±[(rM)-d]2α其中：L: 焦深r: 显像管最小分辨距离M：放大倍数d：入射电子束直径 2α：物镜孔径角。从上面的式子可以看出影响焦深的因素，其中隐含了工作距离w。物镜孔径角与工作

分类:外语出国问题描述:SEM的原理是什么？解析:(SEM)扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相

1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ? TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展