当分辨率在纳米和原子范围时，扫描电镜（sem）和原子力电镜（afm）是我们今天可以获得的最有效的两种显微技术，各有优劣。它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。sem需要在真空环境中进行，而afm是在空气中或液体环境中操作。因此如果是要测定

当分辨率在纳米和原子范围时，扫描电镜（sem）和原子力电镜（afm）是我们今天可以获得的最有效的两种显微技术，各有优劣。它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。sem需要在真空环境中进行，而afm是在空气中或液体环境中操作。因此如果是要测定

扫描电镜只能对样品表面进行成像，即使是液相，也只能是液体表面，这个在环境扫描电镜中已经成功试验过，观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程，液滴的表面形貌清晰可见。无论传统扫描电镜还是环境真空扫描电镜都必须把悬浊液中物质表面从液体中暴露出来，否

解释：abbr. 扫描式电子显微镜（scanning electron microscope）；标准电子组件（Standard Electronic Modules）n. (Sem)（泰、柬）森（人名）；(Sem)（西、挪）塞姆（人名）

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

扫描电镜只能对样品表面进行成像，即使是液相，也只能是液体表面，这个在环境扫描电镜中已经成功试验过，观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程，液滴的表面形貌清晰可见。无论传统扫描电镜还是环境真空扫描电镜都必须把悬浊液中物质表面从液体中暴露出来，否

扫描电镜只能对样品表面进行成像，即使是液相，也只能是液体表面，这个在环境扫描电镜中已经成功试验过，观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程，液滴的表面形貌清晰可见。无论传统扫描电镜还是环境真空扫描电镜都必须把悬浊液中物质表面从液体中暴露出来，否

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。对了，还有一种是针对液体样品的，快

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

你的这个样品很可能是多级结构，因为做TEM要超声分散，把本来团聚的颗粒分散开了。建议在xrd中用谢了公式算一下粒径。如果能确定TEM中的粒子是单晶的，就叫“晶粒”（grain)，一般SEM中看到的粒子叫“颗粒"(particle)

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国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计，利用背景的亮度差别，其实效果不一定很好的。样品的制作只要你把样品粉末比较充分的分散，可以用去离子水，滴一滴就可以，样品制作的好坏关键就看分散性如何，不能太浓也不能太希既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状

扫描电镜只能对样品表面进行成像，即使是液相，也只能是液体表面，这个在环境扫描电镜中已经成功试验过，观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程，液滴的表面形貌清晰可见。无论传统扫描电镜还是环境真空扫描电镜都必须把悬浊液中物质表面从液体中暴露出来，否

扫描电镜只能对样品表面进行成像，即使是液相，也只能是液体表面，这个在环境扫描电镜中已经成功试验过，观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程，液滴的表面形貌清晰可见。无论传统扫描电镜还是环境真空扫描电镜都必须把悬浊液中物质表面从液体中暴露出来，否

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。对了，还有一种是针对液体样品的，快

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得