可以现在乙醇中超声分散，然后用硅片捞取样品，用导电胶粘在样品台上，这样看纤维我觉得比较好另外，如果实在要看固体粉末，不要直接粘在导电胶上，这样不是很好，我觉得还是用铜片好一点，不过尽量不要看固体，高度不均的情况下，看到的图像也是相称度很差薄

扫描电镜可以观察生物样品！当前SEM在生物组织形态结构方面研究普遍应用。你向问的问题似乎是：SEM为什么不能观察活的生物样品？传统扫描电镜工作模式需要将样品处于高真空环境下，因此对样品的基本要求是干燥、无油、导电。这种条件下，无法满足活生物

扫描电镜只能对样品表面进行成像，即使是液相，也只能是液体表面，这个在环境扫描电镜中已经成功试验过，观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程，液滴的表面形貌清晰可见。无论传统扫描电镜还是环境真空扫描电镜都必须把悬浊液中物质表面从液体中暴露出来，否

第一，样品导电，则就对比度问题；第二，样品不导电，或样品过多，或喷金量不够，这时需要喷金时间需要加长，而且样品量最好肉眼略可见即可；第三，样品放在液态导电胶中。查看原帖&gt&gt薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。在这三个测试中原子力显微镜更具有优势。想了解更详细的信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park原子力显微镜的Park NX-Hivac。在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少

嘿嘿 这位同学应该刚刚接触到这个sem吧！简单的说吧——由于sem的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号，而若样品不导电怎或造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（char

你看看电子显微镜的测试原理，SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言，不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像，所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好，SEM可能

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子束分解。2、在电子束扫描下热稳定性要好。3、能提供导电和导热通道。4、大小与厚度要适于样品台的安装。5、观察面应该清洁，无污染物。6、进行微区成分分析的表面应平整。7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、一、名称不同1、SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。2、TEM，英文全称：Tran

SEM通过电子来使样本放大50万倍，相当于将1毫米放大到500米。同时，SEM也可以分析样品的组成元素。SEM产生电子束撞击样品原子的电子层，产生X射线，释放不同程度的能力，从而判断原子的种类。这项技术也被称为X射线微探技术，对于分析枪击痕

可以现在乙醇中超声分散，然后用硅片捞取样品，用导电胶粘在样品台上，这样看纤维我觉得比较好另外，如果实在要看固体粉末，不要直接粘在导电胶上，这样不是很好，我觉得还是用铜片好一点，不过尽量不要看固体，高度不均的情况下，看到的图像也是相称度很差既

粉末X射线衍射（XRD）是最常用的表征方法之一。考察LDHs插层组装体的(003)衍射峰位置是否相对于层间为无机阴离子LDHs的(003)衍射峰位置向低衍射角度方向发生位移，通常是判断有机分子或离子是否插入层状主体层间形成超分子结构插层产物

薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。在这三个测试中原子力显微镜更具有优势。想了解更详细的信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park原子力显微镜的Park NX-Hivac。在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

如果你只是做金属材料中的夹杂等成分，可以不用侵蚀，直接使用背散射观察，然后用EDS进行成分分析；如果你需要看材料的基本组织，第二相等，需要侵蚀，然后SEM观察，同时可在感兴趣的位置进行EDS，包括点、线、面的成分分析。薄膜样品做XRD、SE

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得