液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗
国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。AES是指能谱,主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的-----
你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下么··谢谢··做实验有点急用··
其实,SEM只能知道局部的大致粒径,并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成,可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外,要对经过分散的颗粒(液相)进行SEM拍照,需要再做涂膜后干燥才能操作,实际上在干燥的过程中,再小
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其实,SEM只能知道局部的大致粒径,并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成,可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外,要对经过分散的颗粒(液相)进行SEM拍照,需要再做涂膜后干燥才能操作,实际上在干燥的过程中,再小
液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗
国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
SEM的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有
液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗
国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得
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有没有好的分析检测公司推荐?要测试TEM、SEM
分析检测TEM测试:1.ZSM-5的TEM如何制样?答:在玛瑙研钵中加上酒精研磨,在超声波中分散,滴到微栅上就可以了。辐照的敏感程度与SiAl比有关,SiAl比越大越稳定。2.对于衍射强度比较弱,寿命比较短的高分子样品,曝光时间是长一些还是
液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗
国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪,学名应该是扫描隧道显微镜(scanning tunnel microscopy,STM),它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过,样品和针尖上加有恒定电压,随着针尖和样品起伏不平
液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗
国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得
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液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗
国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得
[求助]乳液做SEM制样问题?
先用双面胶,在铝箔上用双面胶沾上许多碎玻璃片,记住编号;然后用去离子水稀释到固含量在0.1%以下(具体未知),然后超声分散(时间未知),然后用滴管将分散液滴到碎玻璃片上。将铝箔放入真空干燥箱中50℃干燥。用一金属样品台(表面是很光、平的),
[求助]乳液做SEM制样问题?
先用双面胶,在铝箔上用双面胶沾上许多碎玻璃片,记住编号;然后用去离子水稀释到固含量在0.1%以下(具体未知),然后超声分散(时间未知),然后用滴管将分散液滴到碎玻璃片上。将铝箔放入真空干燥箱中50℃干燥。用一金属样品台(表面是很光、平的),