国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

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第一类是光成像,包括光折射放大成像和光干涉成像。 光折射放大成像检测方法的代表是光学显微镜和透射电 子显微镜光干涉成像法的代表是光干涉显微镜和 TOPO移相干涉仪。第二类是对试件表面进行扫描,逐 点检测,从而获得表面微观形貌的信息,这一类检

第一，样品导电，则就对比度问题；第二，样品不导电，或样品过多，或喷金量不够，这时需要喷金时间需要加长，而且样品量最好肉眼略可见即可；第三，样品放在液态导电胶中。查看原帖&gt&gt薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有

sems颗粒物处理方式有2种。1、利用电晕放电技术对含尘气流进行电离，使得气流中的颗粒物带上负电荷，进而被捕集在带有正电荷的集尘基板上。2、利用特定材料对颗粒的捕集实现气固分离。其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信

国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的）2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得

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用TBAF会残留一些丁基不好除去，可以试一下CF3COOHDCM，VV=1:10,然后用K2CO3EtOH室温2h就可以了.CF3COOHDCM:叔丁基醚 一般用异丁烯在酸催化下于DCM中进行,替代试剂有tBuo-C(=NH)CCl

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测试出能谱后，对应的软件上有显示元素种类，该元素对应哪几个峰形。有时候会出现很多不知名的其他元素，这个时候要根据自己所测试物质所含元素的组成进行辨别。测试时，分为面扫和点扫，面扫对应SEM上显示的一个面中各元素含量，点扫则对应该点（实际上由

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纳米颗粒粒径大小可以用TEM、SEM等技术测量粒径分布可以采用DLS、原子力显微镜、梯度离心、电泳等方法比表面积可以BET的方法。其他的就不清楚了，可能还有新的方法国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以