SEM和TEM观察到的压电陶瓷晶粒有什么不同啊？

你的这个样品很可能是多级结构，因为做TEM要超声分散，把本来团聚的颗粒分散开了。建议在xrd中用谢了公式算一下粒径。如果能确定TEM中

的粒子是单晶的，就叫“晶粒”（grain)，一般SEM中看到的粒子叫“颗粒"(particle),因为SEM是看不到晶格结构的。不知对你有否帮助？

能。二次电子成像是扫描电镜的主要工作模式，可以看到几个纳米的大小，所以完全能看到晶粒。晶粒是组成多晶体的外形不规则的小晶体，而每个晶粒有时又有若干个位向稍有差异的亚晶粒所组成，晶粒的平均直径通常在0.015~0.25mm范围内。

扫描电镜通过观测晶粒形貌,放大后使用标尺测量粒径,或者专业的软件,对颗粒形态进行综合表征,如长轴短轴周长面积等,可以生成粒度直方图,但由于扫描电镜一般允许10%左右的放大倍数误差,因此相应的粒径尺寸也有较大的误差.

X射线衍射是通过输入衍射峰半高宽来对晶粒大小进行估算,相对准确度高.

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