SEM/EDS是扫描电子显微镜和X-射线能量色散谱仪的简称,两者组合使用,功能非常强大,既能观察微区的形貌又能对微区进行成分分析,在各类分析工作中被广泛运用。
EDS mapping时间就长的多了,尤其是如果想得到比较确定的数据的话,一个线扫就可以耗费半个小时。EDS mapping的分辨率不仅取决于束斑尺寸,由于收集时间比较长,样品漂移的影响更大,所以比eels mapping 差不少。
答复没显示,重试。After firing, the final powders were sieved. The crystalline phases of doped LiFe0.9 Mg0.1 PO4 pow- ders were identified by X-ray diffraction using a Rigaku AFC5 diffractometer with a Cu K radiation. The diffraction data was collected at 0.02 (degree sign) step width over a 2θ range from10◦ to 90◦ . 在焚烧后,最终的粉末进行过筛。掺杂的LiFe0.9 Mg0.1PO4粉末的结晶相用采用Cu Kα辐射的RigakuAFC5衍射仪进行X射线衍射法鉴定。衍射数据在从10°到90°范围的2θ上以0.02(度符号)的步宽进行采集。The particle size was observed by scanning electron microscopy (SEM) images using a FEI Quanta 200 equipped with energy dispersive spectroscopy (EDS).离子尺寸用扫描电子显微镜(SEM)图像观察,该SEM为配备能量色散谱仪(EDS)的FEI Quanta 200。
The LiFe0.9 Mg0.1 PO4 pellet used for the electronic conductivity measurement was prepared by die-pressing LiFe0.9 Mg0.1 PO4 powders (without carbon and binders) with a pressure of 3 tonnes cm−2 , and then coating with Ag paste on both sides. The size of the pellet was around 1.3 cm diam- eter with 0.06 cm thickness. The electronic conductivity of LiFe0.9 Mg0.1 PO4 was measured by both linear polarization using Solartron 1287 and EIS using Solartron 1287/1260.
用于电子电导测量的LiFe0.9 Mg0.1 PO4颗粒用模压压制LiFe0.9 Mg0.1 PO4粉末(不含碳和黏结剂)而制备,压力为3t cm-2,然后用Ag糊在两面涂覆。颗粒的尺寸大约为1.3 cm直径和0.06cm厚度。LiFe0.9 Mg0.1 PO4的电子电导率可以用线性极化法,也可用EIS法测量。前者用Solartron1287,后者用Solartron1287/1260.
分析检测TEM测试:1.ZSM-5的TEM如何制样?
答:在玛瑙研钵中加上酒精研磨,在超声波中分散,滴到微栅上就可以了。辐照的敏感程度与SiAl比有关,SiAl比越大越稳定。
2.对于衍射强度比较弱,寿命比较短的高分子样品,曝光时间是长一些还是短一些?
答:因为衍射比较弱,虽然长时间曝光是增加衬度的一种方法,但是透射斑的加强幅度更大,反而容易遮掩了本来就弱得多得点,而且样品容易损坏,还是短时间比较合适。我曾经拍介孔分子筛的衍射,比较弱,放6-8s,效果比长时间的好。
3.请教EDXS的纵坐标怎么书写?
答:做了EDXS谱,发现各种刊物上的图谱中,纵坐标不一致。可能是因为绝对强度值并不太重要,所以x射线能谱图纵坐标的标注并没有一个统一的标准。除了有I/CPS、CPS、Counts等书写方法外,还有不标的,还有标成Intensity或Relative Intensity的,等等。具体标成什么形式,要看你所投杂志的要求。一般标成CPS的比较多,它表示counts per second,即能谱仪计数器的每秒计数。
4.EDAX和ED 相同吗?
答:EDAX有两个意思,一指X射线能量色散分析法,也称EDS法或EDX法,少用ED表示二是指最早生产波谱仪的公司---美国EDAX公司。当然生产能谱仪的不只EDAX公司,还有英国的Oxford等。
ED指的是扫描电子显微镜(SEM)或透射电子显微镜(TEM)上用的一种附属分析设备---能谱仪,或指的是最早生产能谱仪的公司---美国伊达克斯有限公司,或这种分析技术。当我们在电镜上观察电子显微图像的同时,可以用这种附属设备分析显微图像上的一个点,或一个线或一个面上各个点所发射的X射线的能量和强度,以确定显微图像上我们感兴趣的哪些点的元素信息(种类和含量)。
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