用SEM照片能进行粒度分析?

用SEM照片能进行粒度分析?,第1张

粒度分析有多种方法,其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究,具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析,但需要良好的制样,获得可以接受的结果。

您可以参考:

SEM/EDS自动粒度分析系统:这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分析功能,这个软件很贵,一般要几万元人民币。

http://coxem2010.blog.163.com/blog/static/16510375720115227572397/

免费资源推荐:图像法粒径分布计算软件

这个是手动进行分析,是国内科研人员业余时间自己开发的简单分析软件,您可以试验一下:

http://coxem2010.blog.163.com/blog/static/16510375720119201448149/

lz应该要看测试什么粒度范围的粉末,比如测试1um一下的粉末,那么FSSS粒度仪就完全不正确了,用BET或SEM比较正确一点,但事先必须超声波分散。在测试几十纳米到几个微米之间的粉末,SEM我觉得是比较正确的,不过关键还是要看测试人的技术的,通过不同的手段是可以看出团粒的。

nanopowders(站内联系TA)激光粒度是一个统计数据,可能会是单颗粒和团聚体的表现,而电镜粒度一般都是统计单个颗粒,除非你的颗粒在溶液中的分散性能很好,形成类似于单分散的浆液,这样二者才会很接近,不然测试的激光粒度都要大于电镜粒度,工业上控制在2倍范围都是可以的pigfly(站内联系TA)激光粒径仪测得的是水合半径,如果是利用静电排斥作用稳定的体系,水合半与pH有很大关系,sugucong(站内联系TA)激光粒径仪测量的是水溶液,而SEM是颗粒的干粉,一般情况下激光粒径仪所得到的结果比SEM的要大至少几个纳米,还有,激光粒径仪受到各别非常大的颗粒影响很大,而且对温度,样品的浓度、单分散性都有很大的影响,但你可以通过多次测量得出一个准确的结果。你可以用一个标准物质与它们进行校正。动态光散射的话是分开来进行测量,然后通过比例进行校正。TEM可以通过样品之间不同比例的混合,然后通过统计,最后进行校正。这样你就可以得到你们颗粒的准确粒径。


欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云

原文地址:https://www.xiayuyun.com/zonghe/120303.html

(0)
打赏 微信扫一扫微信扫一扫 支付宝扫一扫支付宝扫一扫
上一篇 2023-03-13
下一篇2023-03-13

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

    保存