如何区分出珠光体和贝氏体？

金属学原理金属热处理原理水草贝贝(站内联系TA)珠光体是过冷奥氏体等温转变的产物，贝氏体是低温转变产物，分上贝氏体和下贝氏体。珠光体顾名思义就是组织比较圆润的，凭自己理解写的，可能不是很专业，希望对你有用。vince(站内联系TA)珠光体一般有片层状的颗粒状的，而且两者硬度也有区别的。建议：工艺、金相、硬度 综合区别bushliu5516(站内联系TA)建议好好学习金属学原理和热处理原理，不同的材料中珠光体的形态会有一定的差别，贝氏体也一样。outsider23(站内联系TA)珠光体是由铁素体+渗碳体组成，呈片层状；贝氏体具有一定的危险关系，且渗碳体通常位于铁素体基体间或其中。outsider23(站内联系TA)不好意思，应该是位相关系gms(站内联系TA)珠光体是一层渗碳体和一层铁素体的有机结合，是一层一层的，是高温转变组织产物；贝氏体分粒状贝氏体、上贝氏体（羽毛状贝氏体）、下贝氏体（针状贝氏体）和马氏体相似。无极863(站内联系TA)建议看看刘宗昌的《过冷奥氏体扩散型相变》lisanxo(站内联系TA)一般显微镜下好像看不出珠光体片状结构吧，而且珠光体与贝氏体冷却速率不同，自己去理解吧，书上说的有点乱，再结合其他检测设备去确定1qaaw3(站内联系TA)你想怎么区别？要是打硬度就好区分了 珠光体比贝氏体软多了 但要是看金相区分就需要看二者的组织形貌了 珠光体有片层和粒状两种，贝氏体分上贝和下贝 上贝羽毛状 下贝针状或片状，你可以看看热处理的书情不能已(站内联系TA)从形貌上看，珠光体组织纹理细长而弯弯曲曲，而贝氏体组织纹理都是如同箭一般一根根直直的出去！huangjian368(站内联系TA)珠光体根据片层间距可分为珠光体、索氏体、和屈氏体，粒状珠光体和贝氏体的形貌相近，但上贝氏体和下贝氏体的形状也不一样！可以找找相关的书看看！:hand:石头段(站内联系TA)把固态相变原理书拿过来看看。上面讲的很详细xmchjl(站内联系TA)转变温度不同，冷却速度不同，结果片层状厚度有区别，这点在金相显微镜下观察最明显jgf0573(站内联系TA)拿到样首先应该问清工艺吧，有工艺进行初步判定，接着看金相，这方面可以看些材料科学基础、热处理原理啥的，当然热处理手册更好啦，至于实验测定方法，如硬度在实际应用中并不一定能很好的解释，甚至会出现珠光体的硬度大于贝氏体的情况。。。zhang3nan2(站内联系TA)珠光体与贝氏体是热处理冷却速率不同决定的，珠光体的冷却速度慢一些，贝氏体快一些。珠光体组织是由铁素体与渗碳体交替形成的片层状组织，而贝氏体组织形貌种类较多，比较复杂。希望对你有帮助。beiniao(站内联系TA)自己做热处理，做个珠光体和贝氏体，然后做金相看看；贝氏体比珠光体硬度高。single7194(站内联系TA)说结构不同的都是在照搬书本，实话告诉你吧，即便是在SEM下，珠光体与粒状贝氏体混杂在一起的时候，都是难以分辨出来的。至于上贝氏体和下贝氏体，和粒状贝氏体根本就不一样。我做的贝氏体钢很难找到纯粹的珠光体，因为珠光体形成以后粒状贝氏体也会在周围形成。理论上珠光体是层片结构的，但是新形成的粒状贝氏体与珠光体混杂在一起，粒状碳化物析出以后，在SEM下看起来，珠光体中的碳化物也是短小的杆状或是粒状。最后，无法辨认。LZ去试试显微硬度吧，可能做的出来。还有，如果你的钢珠光体含量比较多，可能容易找到。打算用金相分辨的，我觉得还是放弃好了。

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料：百度百科-扫描电子显微镜

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