TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成
FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等
Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。
CV:CV曲线可以测试得到很多信息,比如所需电沉积电压,电流,以及半导体行业可以得到直流偏压
EIS:EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位,阻抗信息,从而模拟出系统内在串联电阻,并联电阻和电容相关信息
BET:主要是测试材料比表面积的,可以得到材料的比表面积信息。
XRD:主要是测试材料的物性,晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。
质谱:主要用于鉴定材料的化学成分,包括液相质谱,气象质谱
完全不可行!对于做腐蚀的来说,一般用SEM看腐蚀形貌,能谱看腐蚀产物成分、含量,并不是所有的腐蚀产物都会附着在试样表面,有的已经扩散到腐蚀介质中去了。你这样是把一个简单的问题复杂化,直接用失重法嘛,或者用电化学的方法欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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