temmapping标尺最大多少

原子力AFM分辨率很高，通常看物质表面形貌，纵向达到10nm级是无压力的。透射TEM一般标尺可以到20nm，不过具体看材料能做到多少，如果是高分辨HRTEM，那是用来看晶格的，标尺甚至可以达到2nm。扫描SEM的话至少可以到微米级，场发射扫描电镜FESEM就更高了，材料导电性好一般可以到100nm的标尺还很清晰。选择原子力显微镜推荐Park原子力显微镜的Park X20。

su8000 仪器型号， 15kv 加速电压， 8.3mm 工作距离，30k,放大倍数，se二次电子检测器，ul应该是检测器位置.

拓展资料：

不同的厂商在设备的标尺上数值设置不同，美国设备一般倾向于微米级别的标尺而日本和捷克则是微米纳米二者兼有，纳米也是比较大的数值而德国蔡司的设备更倾向于数值小的纳米级别标尺数值，但是丝毫没有影响对样品的放大倍数。因此，可以得出一个结论，标尺数值大小跟放大倍数没有必然关系，具体数值大小和不同的厂商设置有关

只知道标尺无法知道放大倍数。

拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。

例如尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm/10um就是1000倍。

扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

扩展资料：

扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）。

参考资料：百度百科-扫描电子显微镜

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