SEM 的定性分析,主要看物体表面的结构如晶粒的生长情况等,结合数学软件,可以定量分析统计分析晶粒的平均直径等,同时,采用背散射电子的像,可以分析不同组成的分布情况。
XRD,的定性分析可以分析物体的组成的信息,定量可以分析物体的点阵常数,物质的相得百分数,物体受应力的情况等
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SEM 的定性分析,主要看物体表面的结构如晶粒的生长情况等,结合数学软件,可以定量分析统计分析晶粒的平均直径等,同时,采用背散射电子的像,可以分析不同组成的分布情况。
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