EM和XRD这两个仪器的使用方法和使用领域

sem主要是观察样品（块体，粉末等）的形貌，分辨率相对TEM不是很高，大概6nm就不错了吧。

XRD主要物相分析，看样品里都是什么物质，也可以进行尺寸分析，应力等，但这需要慢扫否则不准，不过在论文里很少人用这个来测算尺寸，也很少有人会相信的。

如果你只是想测样品，不需要学会，有专门操作的人。要是非要学习，那就要看专门的原理书，还有就是操作手册，这一句两句说不清楚。

解释：

abbr. 扫描式电子显微镜（scanning electron microscope）；标准电子组件（Standard Electronic Modules）

n. (Sem)（泰、柬）森（人名）；(Sem)（西、挪）塞姆（人名）

读法：

英 [,es i: 'em]

用法：

SEM-EDS 能谱 能谱分析 扫描电镜

SEM-EDX 分析 能谱分析 能谱仪 谱分析

TSINGHUA SEM 理学院 清华经管学院 清华大学经济管理学院

近义词：

microscope

读法：

英 [ˈmaɪkrəskəʊp]  美 [ˈmaɪkrəskoʊp]

解释：

n. 显微镜

用法：

Scanning electron microscope 扫描电子显微镜 扫描电镜 扫描式电子显微镜 电子显微镜

Digital Microscope 数码显微镜 该相机还支持数码显微 数字显微镜 显微数码

petrographic microscope 岩相显微镜 岩相显微镱  [光] 岩石显微镜

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