超细银粉sem制样怎么做

（1）对清洗过后的溶液，进行稀释过后采用的是上清液做测试还是下层浓溶液测试（理论粒径为50nm和200nm）

最好都测试一下，二者可能尺寸上面有区别。

（2）银粉溶液制备成功以后，没有立即表征，遮光静置几天后，再做电镜表征，是否有影响

只要排除对于样品无影响，可以。

（3）是否需要干燥以后，取出粉末，再用乙醇溶解，取用这个溶液制样

可以滴在导电硅片上。也可以做粉末置于导电胶上。

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题，喷金或者喷碳就可以解决.

---