样品制备:
通常定量分析的样品细度应在1微米左右,即应过320目筛。
SEM是利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。
SEM所用的是能谱仪,精度不高,只能分析表面几十nm的深度范围,你用SEM做能谱时Ca,O元素都明显打出来了吗,另外你的材料里本身有没有S元素,含量如何,如果含量较少也可能打的不清晰。最后一点,你SEM时样品的衬底用的什么?会不会是衬底峰将S元素的峰掩盖 了欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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