扫描电镜sem主要探测的型号强弱与材料什么物理量有关

扫描电镜sem主要探测的型号强弱与材料什么物理量有关,第1张

1、二次电子探测器:材料元素原子序数越大,激发出的信号越少,信号强度越低,表现出电镜图像越暗

2、背散射电子探测器:材料元素原子序数越大,激发出的信号强度越高,表现出电镜图像越亮

3、能谱仪:材料不同元素激发出特征X射线,收集时间越长,累积的强度越大

20KV 加速电压

放大5万倍

工作距离 11mm

ETD : E-T型二次电子探测器

Spot,束斑大小控制参数

成像模式:二次电子像

2μm 比例尺 scale

FEI 是公司名称 后边是sem型号


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