关于材料科学的问题,照了TEM图片,怎么统计晶粒大小?最好详细一些

关于材料科学的问题,照了TEM图片,怎么统计晶粒大小?最好详细一些,第1张

你没太说清楚照的是啥,什么尺度。如果是HRTEM高分辨的,你一个视野内可以看到好多晶粒的那种,你可以任意拉一条直线,固定长度,然后数这条线穿过了多少个晶粒。数好了数量之后由线段长度除以晶粒数量,任意取三条线,取平均,就得到平均晶粒大小了。

K为谢乐常数0.89,γ为入射X线波长0.154 nm,B为衍射峰的半峰宽,采用弧度rad为单位.计算出1 100℃时的晶粒大小为0.22μm,我们采用这种方法依次算出不同温度下样品的晶粒的大小,整理数据后得到表2和图2(b).从表2和图2(b)可以看出,STO晶粒随温度上升而增大,在1 440℃时晶粒达最大,之后随温度进一步升高而降低.通过比较图2(a)、(b),可以看出用SEM统计法得到的晶粒大小普遍比用谢乐公式给出的大些,但是用谢乐法得到的结果与SEM法得到的结果具有一致的变化规律,即晶粒大小随温度的变化呈现出先增后减,达到1 400℃后快速增长.

晶粒度的测定方法有三种:比较法面积法、截点法。

具体如下

1、比较法:比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较,用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。

2、面积法:面积法是计算已知面积内晶粒个数,利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。该方法的精确度中所计算晶粒度的函数,通过合理计数可实现±0.25级的精确度。

面积法的测定结果是无偏差的,重现性小于±0. 5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数。

3、截点法:截点数是计算已知长度的试验线段(或网格)与晶粒界面相交截部分的截点数,利用单位长度截点数  来确定晶粒度级别数。截点法的精确度是计算的截点数或截距的函数,通过有效的统计结果可达到 ±0.25级的精确度。

截点法的测量结果是无偏差的,重现性和再现性小于±0.5级。对同一精度水平,截点法由于不需要精确标计截点或截距数,因而较面积法测量快。


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