SEM分析时,没有出现S元素,而在XRD中出现CaSO4，为啥？ 请帮助说明原因，谢谢

SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，你用SEM做能谱时Ca，O元素都明显打出来了吗，另外你的材料里本身有没有S元素，含量如何，如果含量较少也可能打的不清晰。最后一点，你SEM时样品的衬底用的什么？会不会是衬底峰将S元素的峰掩盖 了

10nm非常小了，一般情况下FE-SEM不会用来观测10nm左右纳米颗粒的微观结构的~还有，SEM是二次电子成像，由于二次电子的产额随原子数的变化不大，所以得到的SEM图像中Contrast不怎么明显。所以我觉得你应该用TEM来表征你做的这个样品，在TEM图像中，Ni的颜色比Al2O3的暗，如果条件允许的话，做HRTEM或者EDX就更能准备表征你样品中的黑色纳米颗粒是Ni了~~~

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>

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