晶粒度的测定方法

晶粒度的测定方法有三种：比较法、面积法、截点法。

具体如下

1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。

2、面积法：面积法是计算已知面积内晶粒个数，利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。该方法的精确度中所计算晶粒度的函数，通过合理计数可实现±0.25级的精确度。

面积法的测定结果是无偏差的，重现性小于±0. 5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数。

3、截点法：截点数是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的截点数，利用单位长度截点数  来确定晶粒度级别数。截点法的精确度是计算的截点数或截距的函数，通过有效的统计结果可达到 ±0.25级的精确度。

截点法的测量结果是无偏差的，重现性和再现性小于±0.5级。对同一精度水平，截点法由于不需要精确标计截点或截距数，因而较面积法测量快。

实验室进行晶粒度评级一般采用比较法和截点法，比较法是与标准系列评级图进行比较，一般存在一定的偏差（±0.5级）。评级值的重复性与再现性通常为±1级。截点法是计数已知长度的试验线段（或网格）与晶粒截线或者与晶界截点的个数，计算单位长度截线数或者截点数来确定晶粒度级别数G。截点法的测量结果可达到优于±0.25级的精度，重现性和再现性小于±0.5级。

对于等轴晶组成的试样，使用比较法评定晶粒度既方便又实用。对于批量生产的检验，其精度已足够。对于要求较高精度的晶粒度测定，可以使用截点法。截点法对于拉长的晶粒组成试样更为有效。

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