sem的mapping扫描的范围越大越好吗

是的。mapping就是扫描每个点，然后把每个点得到的能谱图按特定的元素峰画图，sem的mapping扫描的范围越大越好，在样品中可穿透和散射的范围越大，伴随着产生的X射线信号范围也越大，也就越好。

就定量来说，SEM点分析比线分析和面分析更准确，扫描的方式不同，线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况（线分析是沿着某个界面的元素分布起伏，而面分析是看整个视场的元素分布情况），点分析可以基本定量分析元素。

SEM/EDS是扫描电子显微镜和X-射线能量色散谱仪的简称，两者组合使用，功能非常强大，既能观察微区的形貌又能对微区进行成分分析，在各类分析工作中被广泛运用。

EDS mapping时间就长的多了，尤其是如果想得到比较确定的数据的话，一个线扫就可以耗费半个小时。EDS mapping的分辨率不仅取决于束斑尺寸，由于收集时间比较长，样品漂移的影响更大，所以比eels mapping 差不少。

SEM表面形貌较好，XPS是做表面成分分析的。

sem即时性高，准确流量，快速调整。XPS板具有致密的表层及闭孔结构内层。其导热系数大大低于同厚度的EPS，因此具有较EPS更好的保温隔热性能，由于内层的闭孔结构。因此它具有良好的抗湿性，在潮湿的环境中，仍可保持良好的保温隔热性能。适用于冷库等对保温有特殊要求的建筑，也可用于外墙饰面

区别是一个汉语词汇，拼音：qūbié有区分、辨别的意思。

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