扫描电镜sem主要探测的型号强弱与材料什么物理量有关

扫描电镜sem主要探测的型号强弱与材料什么物理量有关,第1张

1、二次电子探测器:材料元素原子序数越大,激发出的信号越少,信号强度越低,表现出电镜图像越暗

2、背散射电子探测器:材料元素原子序数越大,激发出的信号强度越高,表现出电镜图像越亮

3、能谱仪:材料不同元素激发出特征X射线,收集时间越长,累积的强度越大

20KV 加速电压

放大5万倍

工作距离 11mm

ETD : E-T型二次电子探测器

Spot,束斑大小控制参数

成像模式:二次电子像

2μm 比例尺 scale

FEI 是公司名称 后边是sem型号

电镜ceta是扫描电镜和能谱分析仪,电镜ceta能谱分析仪包含两台仪器,即扫描电镜和能谱分析仪,扫描电镜简写为SEM,其原理是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息,通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的图像。


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