SEM 实验

烧结试样的 SEM 分析采用日本日立公司生产的 S-520 扫描电子显微镜完成。首先将试样的新鲜断裂面在 IB-3 离子溅射渡膜仪中喷渡厚度约为 10 ～20 nm 的金，对结构致密的部分试样断裂面采用 40%浓度的氢氟酸 ( HF) 侵蚀 20min 后进行镀金，然后放入 SEM样品室内进行观察，电子枪电压采用 20kV，电子束流为 150 mA，并用照相方式记录样品的二次电子图像 ( 或称之为形貌像) 。

会的。为了保证面试者的基本质量，会刷掉部分表现不佳的面试者。

面试共分两轮，第一轮英语面。英语面采取群面形式(非无领导小组讨论)，1 vs N，首先逐一自我介绍，期间面试官通过综合表现打分。然后，多人逐一回答面试官提出的同一问题，面试官继续记录打分。需要说明的是，这一轮刷人不会很厉害，只要提前准备过的，大多数都会过。

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