另一方面,钙钛矿薄膜的反应程度也会直接影响钙钛矿薄膜的质量,而目前对钙钛矿薄膜反应程度的判断尚未见到有效的方法。无论是溶液法还是气相法制备钙钛矿薄膜,只有当几种前驱体的摩尔量符合化学计量数之比时,钙钛矿薄膜才能充分反应,当其中一种前驱体的量不足时,钙钛矿就会出现反应不充分的情况。以最常见的mapbi3钙钛矿材料为例,它是由mai和pbi2两种前驱体通过化学反应转化而成,当mai前驱体的量不足时,钙钛矿的转化不充分,此时薄膜中会残留较多的pbi2前驱体,使得钙钛矿薄膜在光照下,从正面(入光面为正面,即导电玻璃基底这一面)看去会呈现淡黄色,说明钙钛矿薄膜对可见光的吸收尚不充分。当mai的量逐渐符合化学计量数之比时,mapbi3的反应程度逐渐达到充分状态。在这一过程中,从正面观察钙钛矿薄膜所呈现出来的颜色变化会从淡黄色逐渐变为青绿色,再到淡蓝色,最后到紫色,这也从侧面印证了钙钛矿薄膜对光的吸收逐渐扩展至整个可见光范围。钙钛矿薄膜的这种颜色变化过程恰好为我们提供了一种判断其反应程度的指标。
机器视觉是一种使用机器代替人眼进行检测和判断的工业系统,其通过图像拍摄装置摄取待检测样品的图像信息,并传输至专用的图像处理系统。图像处理系统会将检测样品的颜色、亮度、均匀性等信息转换成数字信号,并与数据库中的标准样品进行比对,从而做出判断和筛选,并将结果反馈给现场工作的设备和检测人员。相比于人工检测与筛选,机器视觉大大提高了样品检测的准确性和生产效率,并在一些不适合人工作业的危险环境中发挥着重要作用。机器视觉的应用越来越广泛。
请问现在世界上最好纳米薄膜制备与材料表征需要什么仪器设备,分别是哪个国家哪个公司的最好?本人对纳米薄膜的制备及表征不是很懂,希望路过的人给你帮助,我再做细致的调研,越详细越好,越多越好。 如果制备的话,很多用MBE或者MOCVD吧,表征的话可以用SEM,AFM,XRD,XPS等等,你得看你具体的样品,xuejiang(站内联系TA)长春应用化学研究所有人在做纳米薄膜,你可以问一下,制备仪器不算贵。表征的话就用SEM,tem,xrd等。汉王重出江湖(站内联系TA)磁控溅射仪,AFM,XRD,XPSlff0432(站内联系TA)“最好的”需要很多钱,比如很好的XPS和AFM请问现在世界上最好纳米薄膜制备与材料表征需要什么仪器设备,分别是哪个国家哪个公司的最好?本人对纳米薄膜的制备及表征不是很懂,希望路过的人给你帮助,我再做细致的调研,越详细越好,越多越好。 等待高手回答ylkbyd007(站内联系TA)可以用MBE 磁控溅射、LB拉膜机、真空蒸镀。表征 可以用 AFM XRD TEM SEMpaperhunter(站内联系TA)NOVA系列全自动比表面和孔径分布分析仪纳米粒度仪(Dylisizer-2)cai_yuanyuan(站内联系TA)可以用MBE 磁控溅射、LB拉膜机、真空蒸镀。表征 可以用 AFM XRD TEM SEM贝壳摩尔(站内联系TA)低角度X射线衍射及X射线反射率测量!mengyonghong(站内联系TA)表征纳米薄膜层构参数和光学参数,最长用的是椭偏仪,包括:光谱椭偏仪、激光椭偏仪,还有专门用于过程监控的在线椭偏仪。国外厂家:美国1家、德国1家、法国2家(分别被日本和匈牙利收购了);国内厂家:1个专业椭偏仪器厂家(北京量拓),以及几个有椭偏仪的厂家竹林风bamboo(站内联系TA)一般做出来后,XRD,SEM(表面和截面)这些是必须的。XRD可以分析结构相,有人根据XRDd 三强峰来计算晶粒大小,我觉得这个不可靠,薄膜受基底影响,峰位和峰强都会有一定的改变的。表面SEM分析表面形貌,看是否有微裂纹(这个对纳米薄膜来说很重要,有微裂纹的薄膜基本上是失败了),晶粒大小与均匀度,表面粗糙度等等。还有很重要的是截面SEM,这个对纳米薄膜的表征是必须的。要说明你做的是纳米薄膜,就必须提供薄膜的厚度,以及薄膜与基底的结合情况。。。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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